자동초점 시스템에서의 Peak selection 기능은 무엇인가요?

앞서 설명했던 Off-set 기능을 기억하시나요?

 

표면3을 이물이라고 가정했을 때 AFM이 잘 반응할 수 있는 평평한 표면2을 추종하면서, 원하는 만큼의 Off-set을 주어 표면3에 AFM 초점을 맞추어 확인할 수 있었죠.

그렇다면, 바로 표면3을 추종하면 될 것 같은데 왜 굳이 어려운 방법으로 접근할까? 라고 생각할 수도 있습니다. Off-set은 꼭 필요한 기능이지만, 만약 표면3이 PCB의 표면처럼 소자가 많고 매우 울퉁불퉁하면 애초에 추종 자체가 힘들어집니다.

오늘은 이러한 상황에 사용하는 ‘Peak Selection’에 대해 설명하도록 하겠습니다.

 

 

[Peak Selection 기능]

먼저 왼쪽 그림을 볼게요. 핸드폰 위에 보호 필름이 있고, 그 위에 또 다른 필름이 있다고 생각해 봅시다. 이때 AF를 동작하면 세 개의 표면에서 모두 LID 커브가 생길거예요. (이게 이해가 안되면 다시 앞부분을 보고 오셔야 해요.) 하지만 우리가 원하는 것은 표면3에 생기는 돌출결함이 되겠죠? 이럴때 어떡해야 할까요?

 

거기서 사용하는 기능이 ‘Peak Selection’입니다. LID 커브 내에 여러 피크가 있으면 어떤 표면을 추종할지 고르는 것이죠.

이것은 광학적인 방법이 아니에요. 연구소에 있는 소프트웨어 팀이 구현한 기능이랍니다. AFCB와 PC에 펌웨어를 개발해서 활용하는 기능이에요. 앤비젼에서는 광학 전문가로서 여러 솔루션을 개발하지만, 이에 못지않게 소프트웨어 팀에서도 많은 기능이 추가되어 있답니다.

 

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필진 소개

 

정세진, Jason 앤비젼 광학모듈 엔지니어 복잡한 광학 모듈도 예시를 통해 쉽게 설명해주는 전문가